- Sections
- G - Physique
- G01Q - Techniques ou appareils à sonde à balayage; applications des techniques de sonde à balayage, p.ex. microscopie à sonde à balayage [spm]
- G01Q 60/04 - Microscopie à effet tunnel à balayage STM [Scanning Tunnelling Microscopy] combinée avec la microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy]
Détention brevets de la classe G01Q 60/04
Brevets de cette classe: 17
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Centre National de La Recherche Scientifique | 9632 |
2 |
| Ecole Polytechnique | 308 |
2 |
| Quantum Silicon Inc. | 24 |
2 |
| Xallent Inc. | 13 |
2 |
| Robert Bosch GmbH | 40953 |
1 |
| Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | 1282 |
1 |
| ASML Holding N.V. | 542 |
1 |
| Ceské Vysoké Ucení Technické V Praze | 57 |
1 |
| Immune Disease Institute, Inc. | 33 |
1 |
| Korea Research Institute of Standards and Science | 639 |
1 |
| Xallent, LLC | 4 |
1 |
| Paris Sciences et Lettres - Quartier Latin | 170 |
1 |
| Sorbonne Universite | 1068 |
1 |
| Autres propriétaires | 0 |